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Description
- 技术参数
2、重量：12Kg
3、类型：手动的
4、测量样本大小：≤ 4"
5、测量方法：非接触式
6、测量原理：反射计
7、活动范围：150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
8、测量范围：200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
9、光斑尺寸：20㎛典型值
10、测量速度：1~2 sec./site
11、应用领域：a)聚合体: PVA, PET, PP, PR ...
b)电解质: SiO2、TiO2、ITO、ZrO2、Si3N4
c)半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS...
12、选择：参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
13、探头类型：三目探头
14、nosepiece ：Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
15、照明类型：12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer
- 主要特点
- 测量迅速，操作简单
非接触式，非破坏方式
优秀的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
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ST2000薄膜测厚仪（涂层）
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